Nhan đề chính: Electron Nano-Imaging

Nhan đề dịch: Hình ảnh nano điện tử

Tác giả: Nobuo Tanaka

Nhà xuất bản: Springer Tokyo

Năm xuất bản: 2024

Số trang: 414 tr.

Ngôn ngữ: Tiếng Anh 

ISBN: 978-4-431-56940-4

SpringerLink

Lời giới thiệu: Trong phiên bản thứ hai này, hầu hết các chương của phiên bản đầu tiên, được xuất bản vào năm 2017, đã được sửa đổi và những tiến bộ gần đây của kính hiển vi điện tử như độ tương phản pha vi sai (DPC) STEM, xử lý hình ảnh mã hóa thưa thớt và kính hiển vi điện tử lượng tử đã được bổ sung thêm thông tin chi tiết. Cuốn sách này giải thích cơ sở của hình ảnh và nhiễu xạ trong kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM) và kính hiển vi điện tử truyền qua quét (STEM) theo phong cách của một cuốn sách giáo khoa. Cuốn sách tập trung vào việc giải thích về hình ảnh kính hiển vi điện tử của TEM và STEM mà không đưa vào văn bản chính thông tin gây mất tập trung về kiến ​​thức cơ bản về nhiễu xạ tinh thể, quang học sóng, thấu kính điện tử và các lý thuyết tán xạ và nhiễu xạ, được giải thích riêng trong các phụ lục. Lời giải thích toàn diện được cung cấp trên cơ sở lý thuyết biến đổi Fourier và cách tiếp cận này là duy nhất so với các nguồn tài nguyên tiên tiến khác về kính hiển vi điện tử có độ phân giải cao. Với cuốn sách giáo khoa hiện tại, độc giả sẽ hiểu được bản chất của các lý thuyết hình ảnh của TEM và STEM mà không bị phân tâm bởi các loại kiến ​​thức khác nhau xung quanh kính hiển vi điện tử. Những thông tin mới nhất trong cuốn sách này, đặc biệt là về chi tiết hình ảnh của STEM và hiệu chỉnh quang sai, có giá trị trên toàn thế giới đối với sinh viên sau đại học và các chuyên gia mới bắt đầu sự nghiệp ngày nay.

Từ khóa: Kính hiển vi; Điện tử; Phân giải cao; Kính hiển vi; Năng lượng điện tử; Mô phỏng hình ảnh.

Nội dung cuốn sách gồm những phần sau:

Chụp ảnh nano bằng kính hiển vi điện tử truyền qua

Chụp ảnh nano bằng kính hiển vi điện tử truyền qua quét

Phụ lục: Những điều cơ bản để hiểu về hình ảnh TEM và STEM